書籍販売トップへ 新刊本 化学関連書籍 材料・高分子 関連書籍 環境関連書籍 化学装置 関連書籍 測定関連書籍 設計・機械 関連書籍 医学・薬学 関連書籍 経営・投資 関連書籍 電気関連書籍 その他書籍			＊このページからお買い求めいただけます。 ＊書籍毎に購入数を半角で記入し、「カゴに入れる」ボタンをクリックしてください。 購入数 先端産業のための表面欠陥検査法 本書の特色 表面欠陥検査法についての本邦初で唯一の解説書です。 基礎的測定法から応用検査法にわたり実例を交えて詳述しました。 それぞれの方面の専門家が分かり易く解説しています。 一般産業から先端産業にわたり、現状、研究開発の動向、そして将来を展望し検査自動化の指針になるよう編集しました。 監修 河野　嗣男（東京都立科学技術大学教授） 著者 佐柳　和男（(株)写研メディア研究所長） 三井　公之（慶應義塾大学理工学部助教授）他8名 体裁／価格 体裁：B５判 282頁 定価：本体35,000円＋税 コードNo. 352 目次 序 【第１章】先端産業と表面欠陥検査 【第２章】表面欠陥の定義と分類 【第３章】表面欠陥の規格と用語 【第４章】光学的表面欠陥検査法 【第５章】表面欠陥検査とパターン認識 【第６章】機械加工面の欠陥検査 【第７章】軸受綱のミクロ欠陥の検査およびミクロ欠陥の影響 【第８章】ディスク表面の欠陥検査 【第９章】エレクトロニクス産業における表面欠陥検査 【第10章】光産業における表面欠陥検査 【第11章】金属素材産業における表面欠陥検査 購入数